(1) 激光器選擇：

　　激光粒度儀的重要部件之一，主要有HE-NE激光器和半導(dǎo)體激光器兩種，其中HE-NE激光器的各項(xiàng)性能均優(yōu)于半導(dǎo)體激光器，且成本也遠(yuǎn)高于半導(dǎo)體激光器，半導(dǎo)體激光器單向性差的問(wèn)題，對(duì)測(cè)試結(jié)果的穩(wěn)定性影響很大。因此推薦用戶(hù)選擇HE-NE激光器。

　　(2) 光電探測(cè)器：

　　國(guó)內(nèi)產(chǎn)品采用的光電探測(cè)器的種類(lèi)大同小異，一般就是半環(huán)式、點(diǎn)陣式等，半環(huán)式的優(yōu)勢(shì)是能夠以較少的通道數(shù)達(dá)到很高的探測(cè)精度。而且在出現(xiàn)斷環(huán)時(shí)可以臨時(shí)采取并環(huán)操作，對(duì)測(cè)試結(jié)果影響很小。點(diǎn)陣式屬于比較老的探測(cè)器類(lèi)型，現(xiàn)在用的比較少。

　　(3) 儀器結(jié)構(gòu)問(wèn)題：

　　主要分為整體式和分體式，整體式就是將分散系統(tǒng)和測(cè)試系統(tǒng)整合為一體，協(xié)同操作，分體式則是分散系統(tǒng)獨(dú)立于測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試者需要先操作分散系統(tǒng)，將樣品分散好再將分散好的樣品通過(guò)管道導(dǎo)入測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試。這樣的缺點(diǎn)是協(xié)同操作性不好，比較重的顆粒容易在管道中沉淀，清洗不便且對(duì)測(cè)試結(jié)果有一定影響，現(xiàn)在整體式結(jié)構(gòu)的儀器是發(fā)展方向，進(jìn)口產(chǎn)品大都采用整體式結(jié)構(gòu)，國(guó)內(nèi)的產(chǎn)品也慢慢在向整體式結(jié)構(gòu)發(fā)展。

　　(4) 光路設(shè)計(jì)問(wèn)題：

　　光路設(shè)計(jì)是激光粒度儀研制的基礎(chǔ)，進(jìn)口產(chǎn)品的優(yōu)勢(shì)不但在制造工藝上，光路的設(shè)計(jì)水平也是技術(shù)先進(jìn)的標(biāo)志，國(guó)內(nèi)的廠(chǎng)家現(xiàn)在大都采用簡(jiǎn)單的平行光路設(shè)計(jì)，據(jù)了解濟(jì)南微納公司推出的產(chǎn)品中采用了匯聚光傅立葉變換光路。這種光路是一種比較先進(jìn)的光路，能夠獲得更寬的散射角，在提高測(cè)試精度方面有一定的優(yōu)勢(shì)。